由于取样过程将物体上的坐标点数字化为离散的整数像素位置,因此光栅算法生成的图元显示具有锯齿形或阶梯状外观。这种由于低频取样(不充分取样)而造成的信息失真称为走样(aliasing )。可以使用校正不充分取样过程的反走样(antialiasing)方法来改善所显示的光栅线的外观。 由于取样过程将物体上的坐标点数字化为离散的整数像素位置,因此光栅算法生成的图元显示具 你的当前访问异常,请进行认证后继续阅读剩余内容。 提交