问题描述
有n个(2<n<20)芯片,好的或坏的,并且有比坏的芯片更多的已知的好的芯片。
每个芯片都可以用来测试其他芯片。当用一个好的芯片测试其他芯片时,它可以正确地给出被测芯片是好是坏。当用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好的或坏的测试结果(也就是说,这个结果与被测芯片的实际质量无关)。每个芯片
问题描述
有n个(2<n<20)芯片,好的或坏的,并且有比坏的芯片更多的已知的好的芯片。
每个芯片都可以用来测试其他芯片。当用一个好的芯片测试其他芯片时,它可以正确地给出被测芯片是好是坏。当用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好的或坏的测试结果(也就是说,这个结果与被测芯片的实际质量无关)。每个芯片